Die Bedeutung einer umfassenden Teststrategie für elektronische Leiterplatten
Testen ist ein entscheidender Schritt im Entwicklungszyklus jeder Leiterplatte.
Eine gut definierte Strategie ermöglicht die frühzeitige Identifikation von Anomalien und verhindert kostspielige Korrekturen in der Produktion.
Unsere Herangehensweise umfasst:
Definition vollständiger Testpläne
In-Circuit-Tests, Funktionstests, Boundary-Scan, Speichertests
Testautomatisierung
Für maximale Abdeckung und Wiederholbarkeit der Ergebnisse
Implementierung von Testumgebungen
Für kontinuierliche Validierung in allen Entwicklungsphasen
Messung spezifischer KPIs
Zur Überwachung des Fortschritts und Optimierung der Testleistung
Validierung & Nicht-Regression: Qualität über den gesamten Lebenszyklus sichern
Bei LACROIX implementieren wir rigorose Validierungsprozesse, um die ordnungsgemäße Funktion elektronischer Platinen während ihres gesamten Lebenszyklus zu gewährleisten. Unsere Non-Regression-Tests überprüfen, dass keine neue Revision bestehende Funktionalitäten beeinträchtigt.
Unsere Schlüsselschritte:
- Systematische Durchführung von Non-Regression-Tests bei jeder Designmodifikation
- Analyse der technischen Schulden zur Identifikation und Begrenzung von Schwachstellen
- Leistungsvalidierung unter realen Bedingungen
- Implementierung kontinuierlicher Verbesserung für Validierungsprotokolle
DfT: Von Anfang an für Testbarkeit entwickeln
Design for Test (DfT) ist eine Ingenieursmetodologie, die Testbarkeit von den frühesten Phasen des elektronischen Platinendesigns an integriert. Dieser Ansatz optimiert Testprozesse, reduziert Kosten und beschleunigt Time-to-Market.
Unsere Experten implementieren DfT-Best-Practices:
- Integration von JTAG- und Boundary Scan-Testarchitekturen zur Verbesserung der Testabdeckung
- Design spezifischer Testpunkte zur Erleichterung von In-Circuit-Tests (ICT)
- Implementierung von Built-in Self-Test (BIST)-Funktionen für Feldvalidierung
- Optimierung der Testbarkeit kritischer Komponenten und Schnittstellen
- Berücksichtigung von Testbeschränkungen bereits in der elektronischen Schaltplandesignphase
Unser umfassender Ansatz zur Validierung elektronischer Platinen
LACROIX bietet eine globale Methodik, die Hardware- und Software-Tests für eine vollständige Validierung Ihrer elektronischen Platinen kombiniert:
- Strukturelle Tests (AOI, AXI, ICT) zur Validierung der physischen Integrität der Platinen
- Maßgeschneiderte Funktionstests zur Überprüfung des Platinenverhaltens unter realen Bedingungen
- Systemvalidierung, die Hardware- und Software-Dimensionen integriert
- Beschleunigte Zuverlässigkeitstests (HALT/HASS) zur Bewertung der Produktlanglebigkeit
- Fehleranalyse- und Debugging-Tests zur Antizipation potenzieller Probleme
Warum LACROIX für Ihre Test- und Validierungsprojekte wählen?
Mit anerkannter Expertise in Elektronikdesign und -produktion bietet LACROIX Lösungen, die an die Anforderungen der kritischsten Branchen angepasst sind, von Automotive bis Luftfahrt, Gesundheitswesen und vernetzte Industrie.
Unsere Stärken:
- Ein Designzentrum (Impulse) mit DfT-Experten für optimiertes Design
- Hochmoderne Testausrüstung (Nadelbett-Prüfmaschinen, ICT, AOI, AXI)
- Expertise in Industrie 4.0 für industrialisierte und optimierte Tests
- Ein maßgeschneiderter Ansatz zur Erfüllung der spezifischen Beschränkungen jedes Projekts
- Internationale Präsenz zur Unterstützung von Multi-Region-Deployments
Beschleunigen Sie Ihre Time-to-Market
Die Zuverlässigkeit und Qualität Ihrer Leiterplatten basiert auf einer ausgereiften Teststrategie und einem strukturierten DfT-Ansatz. Mit LACROIX profitieren Sie von individueller Unterstützung für den Erfolg Ihrer elektronischen Entwicklungen.